高分辨率电磁场测绘

信测以KAPTEOS全介质电光探头、eoSense和三维定位扫描系统构建近场测绘链路。探头可更靠近芯片表面或深入喇叭天线内部，光纤避免移动同轴电缆牵动相位；扫描坐标与幅度、相位或时间波形绑定，形成二维、三维场图，并与结构、仿真和远场结果对应。

高校芯片研究证明了小尺寸与低扰动对亚毫米局部观察的价值；20 GHz喇叭天线公开研究则证明，单平面幅相数据可以重建与理论、仿真及远场实测一致的方向图，增益置信区间小于1 dB。

亚毫米空间分辨

让探头真正靠近器件表面，看见被平均掉的局部变化。精细网格保留空间梯度，局部峰值与边缘效应被识别，场图与器件位置直接对应。

全介质低扰动

减少探头和移动线缆对近场幅度与相位的改变。可进入芯片表面与天线内部，扫描时避免同轴电缆牵动相位，测量链路尽量不改变波前。

幅相与场图联动

从单点数值扩展到可解释、可验证的二维三维场图。坐标与幅度、相位共同保存，差异位置直接回到结构诊断，由扫描数据验证辐射方向图。

用户案例

走近芯片表面，观察常规天线难以分辨的电磁发射

我们服务的一所高校集成电路研究院，希望研究芯片及电路周围的电磁发射分布。常规天线靠得不够近，金属结构还可能改变原有电场。KAPTEOS电光探头尺寸小、测量扰动低，并可结合扫描机构逐点获取局部场信息，为芯片电磁发射机理研究和后续设计分析提供新的观察手段。

不依赖大型远场环境，也能从近场数据重建天线方向图

一支欧洲射频研发团队要测量20 GHz喇叭天线，传统金属探头可能扰动辐射，远场测试又需要较大空间。团队用KAPTEOS电光探头在单平面扫描幅度和相位，再重建远场方向图。结果与理论、仿真及远场实测相符，增益置信区间小于1 dB。

方案主要构成

关键仪器、模块、附件与软件按测试目标灵活组合，并可持续扩展升级。

KP系列光电场探头

在强电磁场、高电位和狭小空间内实现低扰动电场测量，兼顾连续信号与单次脉冲，帮助用户保留真实波形并提高人员与仪器隔离安全性。

eoSense光电信号处理主机

把光电场或磁光探头的光信号转换为可由示波器、频谱仪和采集系统直接读取的校准模拟信号，并自动识别探头，降低跨频段配置与换算工作量。

eoScan三维自动扫描系统

把探头测量值与三维坐标自动关联，形成二维或三维电磁场分布，提升近场、屏蔽泄漏和高压设备内部测量的重复性与扫描效率。

ProbeLink探头助手

统一管理PMM探头、Kapteos电光场探头及频谱仪、示波器等设备，自动应用探头系数和单位换算，缩短从连接设备到获得可信场强结果的时间。

场景概述及挑战