第四代电光电场测量:从空气到等离子体

2024年06月19日
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2024年6月19日,信测在公众号介绍由法国里昂大学Lionel教授带来的第四代电光电场测量方案。它面向的不只是常规暗室测量,更关注传统金属探头难以进入、容易扰动或难以承受的极端环境。

为什么电光测量适合极端环境

传统电场探头通常包含金属结构和电子器件。在高压、真空、液体、等离子体或强电磁脉冲附近,这些结构可能扰动局部电场,也可能受到共模干扰、放电或辐射影响。电光探头采用全介质敏感单元和光纤传输,探头端不使用金属接收天线,因而能够以更低扰动靠近被测区域。

看见更快、更小的电场变化

原文所列方案可实现皮秒级响应,用于观察单次脉冲和快速瞬态;探头直径可小至约4 mm,空间分辨率可低于1 mm,适合局部电场梯度明显的区域。系统能力覆盖DC至110 GHz,量级从mV/m延伸至MV/m,动态范围标注约135 dB。需要注意,这些数字对应产品族和特定系统配置,并非每一支探头同时具备全部范围,具体能力应按探头、解调单元和测试条件确认。

从高压设备到等离子体

在高压与电力电子领域,电光测量可用于局部放电、电晕、介质阻挡放电、雷电、谐波、电瞬态以及交直流变换设备研究;在等离子体和高功率电磁领域,可用于HPEM、EMP及快速脉冲的时域测量;在科研与医疗场景中,还可面向生物体内电场、真空系统,以及伴随X射线或γ射线的复杂环境。

按任务模块化配置

真正的选型起点不是追求单一“最大指标”,而是明确被测介质、频率范围、场强量级、时间分辨率、空间分辨率和探头可达性。Kapteos电光系统可按任务组合探头与解调模块,并在后续扩展测量能力。对于希望验证方案适用性的实验室,可先以真实样品和典型工况进行试用,再决定最终配置。

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